太陽電池熱斑是指太陽電池組件在陽光照射下，由于部分組件受到遮擋無法工作，使得被遮蓋的部分升溫遠遠大于未被遮蓋部分，致使溫度過高出現(xiàn)燒壞的暗斑。

熱斑可能導致整個電池組件損壞，造成損失。因此，需要研究造成熱斑的內在原因，從而減小熱斑形成的可能性。太陽電池熱斑的形成主要由兩個內在因素構成，分別與內阻和太陽電池自身暗電流大小有關。

組件功率下降究其原因主要有三方面：

1.硅片質量下降，導致電池出現(xiàn)較大幅度早期光致衰減;

2.一些組件制造廠組件制造工藝不合理，出現(xiàn)諸如電池片隱裂、EVA交聯(lián)度不好、脫層、焊接不良等質量問題，這種組件在短時間內也會造成輸出功率衰減或組件失效;

3.有些組件制造商功率測試不準確。

輸出功率衰減可分為兩個階段：

1.早期光致衰減，即光伏組件的輸出功率在剛開始使用的最初幾天發(fā)生較大幅度的下降，但隨后趨于穩(wěn)定。其重要原因是硼氧復合;

2.組件的老化衰減，即在長期使用中出現(xiàn)的極緩慢的功率下降，產(chǎn)生的主要原因與封裝材料的性能退化有關，也與電池緩慢衰減有關光伏組件早期衰減的三種方案中，尚德采用的是第三種：改變p型摻雜劑，用稼代替硼，讓我來看看為啥

反向電流

其實原本是針對二極管提出的一個概念，當二極管反向偏置的時候本來應該是不導通的，沒有電流;但是實際在二極管兩端加反向電壓的時候，會有微弱的電流流過二極管，這個電流就是反向電流

漏電流也叫旁路電流

從反向電流和漏電流都可以判斷Si片中雜質含量高低

暗電流：主要是因為刻蝕的時候沒有把邊緣的pN結刻掉，并聯(lián)電阻太小，造成漏電，開始的時候沒什么關系，時間長后衰減得厲害。爆曬后就可以看出來了，如果做了組件后直接拿去爆曬2天就看出來了。

暗電流曲線是指太陽能電池在沒有光照下的電壓-電流(IV)曲線，測試方法與光電流一樣，只是必須完全隔絕光線。

測量暗電流的意義在于表征電池的整流效應。好的電池應該有比較高的整流比，也就是正向暗電流比反向暗電流高越多越好。電流的整流效應與電池開路電壓有關。

暗電流：darkcurrent

反向電流：reversecurrent

暗電流：無光照下，p-N結在不同電壓下的電流

反向電流：反向偏壓下，流經(jīng)p-N結的電流

電池片從線上下來測試的如果是燒結后的測試,在電場的作用下少子會定向移動,一般少子是由半導體本征激發(fā)而產(chǎn)生,暗電流過大會導致開路電壓變小,直接導致轉換率下降,然而暗電流過小的話,說明少子的量少,少子少說明少子壽命短,在少子被激發(fā)出來后很快的被復合掉,少子壽命由少子的有效質量和散射有關,有效質量是與能帶結構決定,一般片子都是固定的,有效質量也是固定的,所以少子壽命主要與散射有關,散射分離子散射,缺陷散射,和晶格散射等,如果片子內部缺陷多,離子多,晶格震動越厲害,散射率越明顯,散射率越大,少子壽命大大越低,此外散射還與溫度有關,溫度越高,內部的微觀運動越劇烈,導致散射率變大,少子壽命下降,少子壽命下降直接導致片子的短路電流減小,導致轉換率下降,因此通過判斷暗電流的大小,我們可以知道片子的基本狀況,是好是壞,壞在哪里也就一清二楚了

關于組件的損益

損益是封裝的時候，一方面，由于封裝材料和層壓保護等方面對電流的提升作用，另一方面是不同功率電池封裝以后電流的損耗性，還有就是接觸電阻等的損耗作用，綜合的因素

摻稼單晶電池和組件

在上文提出的解決

由于稼在硅中的分凝系數(shù)為0.008，遠小于硼的0.8，這使得摻稼單晶硅棒的電阻率分布相對摻硼單晶較寬，但對于市場上單晶硅電池要求電阻率為0.5-6歐姆的規(guī)格范圍，這并不是個問題，現(xiàn)有電池工藝完全可以接受。

采用稼替代硼作為p型摻雜劑的優(yōu)勢主要有：

1.對現(xiàn)有拉晶設備和工藝無任何影響，僅需將硼摻雜劑改為稼摻雜劑;

2.對現(xiàn)有電池制造工藝無任何影響;

3.每50千克硅料僅需摻稼1~2克，成本約為10元